ZMIKE 激光测径仪
ZMIKE台式外形尺寸激光测径仪， 测量高，测量速度快，可单次或连续测量，可满足不同测量应用领域。与传统的接触式外形几何尺寸测量比较，BenchMike采用了激光非接触测量原 理。对原始测量数据自动采集、处理，数字显示等技术，降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了测量的。友好界面的显示控制软件及多种接口 用于数据及通讯，将使用者从繁重的测量中解放出来。特别是对于一些柔软、易碎、辐射、高要求等传统接触测量束手无策的被测量任务，BenchMike 可提供满意的测量。
ZMIKE 激光测径仪主要特点：
◆ 测量高，测量速度快。可满足不同测量应用领域
◆ 丰富的测量模式满足不同的测量应用
◆ 采用了全新数据处理技术，图形用户交互(GUI)界面、快捷按键使测量更直观，操作更便利
◆ 具有测量应用库及自编辑被测量功能，配合专用夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测量扩充能力
◆ 单点及双点自动校准功能，减少了使用条件的变化对测量的影响，使仪表维护更方便
ZMIKE 激光测径仪测量原理：
采用激光扫描原理进行测量，如右图所示，激光发生装置产生的激光，照射在马达驱动的高速旋转棱镜上，通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束，测试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影，会在光电收集端形成信号的阶跃，阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置等参数。