OPTACOM致力于各行业领域的实验室或工作现场精密轮廓粗糙度测量需求，为您提供各种类型的轮廓形貌扫描测量仪或精密轮廓粗糙度综合测量仪。仪器参数符合ISO、DIN、JIS、EN等各类标准。CNC全自动X、Z轴采用全程大量程高光栅尺，选配上下双向测针，Y轴自动工作台同时可测量旋转类工件内外径几何尺寸(自动锁定拐点测直径)，内外轮廓形貌等。再选配分度头装夹工件，可测量圆度、圆柱度及不同截面的复杂几何尺寸。
主要特点：
◆ 仪器主体结构采用轻型耐用的航空合金材料
◆ X轴与Z轴采用独立机械系统，可同时实现X&Z双轴全量程范围内连续扫描，并保持针尖分辨率恒定
◆ X轴与Z轴采用独立整体光栅系统
◆ THK供给的超精密线性导轨
◆ 非接触式增量光栅的测量系统，密闭式的设计可大程度降低磨损和提高读数可靠性
◆ 轻型高强度碳纤维聚合物测量臂
◆ 电子反馈测力机构
◆ 快速装卸测针装置，可自定位
◆ 操纵杆全自动控制测量
| 硬件特点 | 软件优点 |
| 模块化设计，升级简单 | 所有测量模块，一个测量软件 |
| 维护保养成本低 | 人性化的软件，操作简单 |
| 增量式光栅 | 软件支持中文及多国语言 |
| 测针全自动接触工件表面 | 测量即可评价轮廓度、粗糙度、圆度 |
| 测针坚实耐用,全自动防撞保护系统 | 全自动测针校准 |
| 固定式测杆系统 | 可自定义打印模板 |
| 425X425mm标准测量范围 | 测量和打印多窗口独立显示 |
| 移动亦可测量，测量亦可移动 |
技术参数：
| 型号 | VC10 | VC10EL | VC10UL | LC10 |
| X轴测量范围mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| Z轴测量范围mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| X轴Z轴全量程分辨率 | 0.002μm | 0.02μm | ||
| 针尖分辨率 | 小于3nm | 小于30nm | ||
| 测量力(软件自动调节) | 0-150mN | |||
| 测量长度 | 0.1-225/325/425mm | |||
| 爬坡能力 | 上坡78°, 下坡87° |
双向测量模块
Optacom公司拥有大量程精密双向测量技术利，通过双向测量模块的应用，用户可以非常容易的测量工件的轮廓，角度，距离，圆弧半径和标注公差等。这使得用户能方便的测量出工件的整个轮廓，并能分析各个元素之间的关系。
Optacom公司的双向测量技术非常简单易懂，通过对零件的上下轮廓的精密扫描，在软件中建立起零件的坐标系，从而可以计算零件整个轮廓各个部分之间的尺寸和位置关系。
应用实例：
1.外螺纹测量实例
2.内螺纹测量实例
3.超深内孔轮廓测量实例
