Werth TomoScope X射线断层扫描测量机将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。
Werth TomoScope X射线断层扫描测量机主要特点：
◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高内外尺寸全面测量
◆ 可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探 针、光纤、激光等）
◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快
◆ Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆ Werth公司技术的栅格断层扫描技术：
精密测量微小部件
扫描更大尺寸工件，提高分辨率
扩展测量范围
◆ 测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆ 测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆ 选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准) ，界面友好，操作简单
◆ 可使用Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆ 广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，质量控制等
应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等
技术参数：
型 号 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
分辨率 | 0.1μm | 0.1/0.01μm | 0.1μm | 0.1μm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作台承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
仪器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
应用实例：
Werth TomoScope X射线断层扫描测量机非接触无损内部缺陷扫描。